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Trek 1100TN靜電力顯微鏡(EFM)使電壓分布的測(cè)量具有非常高的空間分辨率-10μm遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出典型的靜電電壓表的能力。與在大氣條件下操作的掃描探針顯微鏡相比，Trek的EFM還可以測(cè)量更大的表面積的電壓分布。Trek的EFM使用一個(gè)反饋電壓到檢測(cè)器，它等于測(cè)量的電壓，從而防止探測(cè)器和測(cè)試表面之間的電弧影響。

型號(hào)：1100TN

更新日期：2023-06-20

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絕緣粉末電阻測(cè)試儀ID-909是新一代粉末電阻率儀，旨在為成功的靜電粉末涂裝工藝提供準(zhǔn)確且可重復(fù)的粉末電阻率測(cè)量和相關(guān)電氣測(cè)量 在ID-465的成功基礎(chǔ)上，909型粉末電阻率儀配有特殊的改進(jìn)型測(cè)試元件和數(shù)字接口，可實(shí)現(xiàn)粉末電阻率的精確和可重復(fù)測(cè)量。該微控制器還簡(jiǎn)化了儀器的零點(diǎn)設(shè)置操作，并提供了一個(gè)用于連接筆記本電腦或PC和記錄結(jié)果的USB端口。

型號(hào)：ID-909

更新日期：2023-06-20

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激光粒度粒形分析儀不受顆粒或介質(zhì)的物理性能和光學(xué)性能影響，*獨(dú)立激光通道 - 高分辨率及精度 DIPA 2000i采用激光光阻技術(shù)，不需要任何假設(shè)或樣品特性，可直接測(cè)定微粒的粒度分布（0.1 - 5000微米）。 這種*的分析技術(shù)，被稱(chēng)為“Laser Obscuration Time”激 光光阻技術(shù)（LOT）。

型號(hào)：DIPA2000i

更新日期：2023-06-20

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脈沖電聲測(cè)試-空間電荷測(cè)量?jī)x使用聲學(xué)技術(shù)進(jìn)行空間電荷測(cè)量已成為研究固體材料介電性能的一種常用方法。在各種技術(shù)中，脈沖電聲（PEA）方法已被用于各種工業(yè)應(yīng)用，例如用于評(píng)估高壓絕緣材料。經(jīng)典的PEA系統(tǒng)可以測(cè)量試樣厚度方向的空間電荷分布。PEANUTS系統(tǒng)中85℃測(cè)試腔體專(zhuān)用于高溫環(huán)境測(cè)試。PEANUTS的放大器放置在測(cè)試腔體外部，以避免受到85℃高溫的破壞。

型號(hào)：PEM

更新日期：2023-06-20

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