Radiant的精密PNDS納米位移測(cè)試系統(tǒng)是一種高性?xún)r(jià)比、緊湊的桌上型位移傳感器，能夠測(cè)量壓電薄膜的表面位移和MEMs的傳動(dòng)位移。PNDS是一種非常靈敏的原子力顯微鏡結(jié)構(gòu)，它是測(cè)量薄膜性能的高性?xún)r(jià)比解決方案。它與Radiant的Vision測(cè)試軟件*兼容。PNDS提供的測(cè)量能力為亞微米電極尺寸，其垂直位移測(cè)試解析度優(yōu)于埃級(jí)別。

PNDS包含了AFM掃描所需的一切：舞臺(tái)，控制電子設(shè)備，探針，手冊(cè)和視頻顯微鏡?？梢耘cRadiant精密測(cè)試系統(tǒng)聯(lián)系并配有Radiant*壓電測(cè)試軟件。PNDS提供了亞微米“點(diǎn)"尺寸的測(cè)量。 PNDS對(duì)于納米尺寸大小的樣品測(cè)試具有埃級(jí)別的分辨率。進(jìn)的壓電測(cè)試軟件可以在自動(dòng)控制下獲取多個(gè)環(huán)路，從測(cè)量中消除垂直卡盤(pán)漂移，平均環(huán)路并平滑結(jié)果。

精密納米位移測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試功能：

• 大信號(hào)位移vs電滯回線

• 小信號(hào)位移vs電容

• 剩余位移

• 壓電疲勞與老化

了解更多關(guān)于納米測(cè)試方案：4008803660