Tektronix AWG任意波形發(fā)生器AWG70000 系列任意波形發(fā)生器代表*的采樣率、信號(hào)保真度和波形內(nèi)存，非常適合復(fù)雜組件、系統(tǒng)和試驗(yàn)的設(shè)計(jì)、測試和操作。 AWG70000 系列具有高達(dá) 50 GS/s 和 10 位垂直分辨率，提供先的信號(hào)激勵(lì)解決方案，可方便地生成理想、失真和“真實(shí)"信號(hào)。

Tektronix AWG70000 任意波形發(fā)生器 型號(hào)

Tektronix AWG70000 任意波形發(fā)生器 概述

Tektronix AWG任意波形發(fā)生器構(gòu)建多發(fā)射極射頻信號(hào)環(huán)境變得非常簡單

近年來，已有建議書提出通信系統(tǒng)在雷達(dá)波段運(yùn)行，從而縮短雷達(dá)和射頻信號(hào)環(huán)境的距離。泰克已為當(dāng)前任意波形發(fā)生器安裝了一個(gè)特定波形創(chuàng)建插件，使工程師能夠?yàn)樵S多特定應(yīng)用創(chuàng)建特定的射頻環(huán)境。

支持的應(yīng)用包括模擬/仿真 EW 監(jiān)測的任何實(shí)際無線場景/環(huán)境、帶有干擾信號(hào)的雷達(dá)接收機(jī)以及相控陣列天線和 MIMO。

任意波形發(fā)生器的環(huán)境插件

新環(huán)境插件的功能包括：

• 能夠創(chuàng)建多個(gè)場景并在一次編譯中分配到不同的 AWG 通道。用戶最多可以創(chuàng)建 50 個(gè)場景。

• 場景由各個(gè)射頻發(fā)射極信號(hào)組成，每個(gè)場景用戶最多可以定義 100 個(gè)發(fā)射極

干凈、真實(shí)的生命信號(hào)。

10 位分辨率和全范圍采樣率（高達(dá) 50 Gs/s），可讓您模擬復(fù)雜的環(huán)境、重新創(chuàng)建感興趣的對象和可靠地生成精確的測試信號(hào)，全部具有低誤差向量幅度 (EVM) 和噪聲。 直接生成可達(dá) 18 GHz 帶寬的信號(hào)或生成基帶 I/Q 流。

特點(diǎn)

• 10 位分辨率

• SFDR

可讓您隨心所欲的工具。

AWG 軟件庫支持快速形成波形，插入抖動(dòng)，預(yù)失真波形獲取先誤差向量幅度 (EVM)，甚至模擬復(fù)雜的真實(shí)世界環(huán)境。 所有波形插件都順利整合到 AWG GUI，在您無法將其帶入實(shí)驗(yàn)室時(shí)可以在您的 PC 上運(yùn)行。 生成您所需的所有波形，無需編譯費(fèi)用。

特點(diǎn)

• 射頻通用插件 適合一般波形創(chuàng)建需求

• 預(yù)補(bǔ)償 實(shí)現(xiàn)業(yè)內(nèi)先的性能

• 高速串行和 ISI 適合創(chuàng)建標(biāo)準(zhǔn)或插入抖動(dòng)

• 多音調(diào)和線性調(diào)頻 插件

測試更多信號(hào)， 測試速度更快， 立即測試。

AWG70000 打開包裝后只需幾分鐘就可以使用，可加快測試步伐。 AWG 同步集線器可讓即插即用儀器同步，允許實(shí)驗(yàn)或測試設(shè)置輕松擴(kuò)展。 設(shè)置起來也很容易，使您減少同步所花時(shí)間，留出更多時(shí)間進(jìn)行測試。

：同步和多臺(tái)設(shè)備應(yīng)用

特點(diǎn)

• 時(shí)滯小于 10ps 意味著儀器之間緊密同步

• AWG 同步集線器 具有同步多達(dá) 4 個(gè) AWG 所需的所有電纜和硬件。

• SourceXpress 軟件可實(shí)現(xiàn)靈活的遠(yuǎn)程儀器控制，支持多臺(tái)同步儀器

可靠、可重復(fù)且堅(jiān)固耐用。 現(xiàn)成的性能解決方案。

AWG7000 系列可安裝在機(jī)架上且經(jīng)過現(xiàn)場使用測試，是遠(yuǎn)程現(xiàn)場部署、舊設(shè)備 COTS 更新或更新測試和測量機(jī)架的美解決方案。 AWG70000 具有出色的性能和校準(zhǔn)服務(wù)，是任務(wù)關(guān)鍵型設(shè)置堅(jiān)固可靠的關(guān)鍵儀器。

視頻：AWG70000 跌落測試

特點(diǎn)

• 提供 3 或 5 年服務(wù)計(jì)劃

• 非工作溫度范圍 -40℃ - 70℃

• 通過用振動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)測試

• 通過了現(xiàn)場使用的沖擊和跌落測試