CINDBEST CH-8|8"~12" 綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)/應(yīng)用 

◆ 最大可用于 12 英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 

◆ 同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，線性移動(dòng)

 ◆ 大手柄驅(qū)動(dòng)，操作舒適，無(wú)回程差設(shè)計(jì)

 ◆ 針座平臺(tái)快速、微調(diào)升降功能 

◆ 可搭配多種類型顯微鏡 

◆ 晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC 測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等 

◆ 結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計(jì)，可無(wú)縫升級(jí)

 ◆ 探針臺(tái)可根據(jù)客戶要求定制。

CH-12 綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)

臺(tái)體：型號(hào) CH-8/CH-12 

樣品臺(tái)尺寸 8 英寸/12 英寸 

水平旋轉(zhuǎn) 可 360 度旋轉(zhuǎn)，可微調(diào) 15 度，精度 0.1 度，

帶角度鎖死裝置 

2X-Y 

移動(dòng)行程 8 英寸*8 英寸/12 英寸*12 英寸X-Y 

移動(dòng)精度 10 微米/1 微米樣品固定 真空吸附，

中心吸附孔，多圈吸附環(huán)針座平臺(tái) U 型針座平臺(tái)，

最多可放置 10 個(gè)探針座平臺(tái)升降 可快速升降 6mm/可微調(diào)升降 25mm

背電極測(cè)試 樣品臺(tái)電學(xué)獨(dú)立懸空，4mm 插孔可接背電極

外形尺寸 840mm 長(zhǎng)*600mm 寬*700mm 高/950mm 長(zhǎng)*700mm 寬*700mm 高

 重量 約 100 千克/150 千克