靜態(tài)Static (DC) 測試: 客戶的設計目標是優(yōu)化開關狀態(tài)下的電氣性能。泰克的SMU儀器、系統(tǒng)或參數(shù)曲線跟蹤器用于執(zhí)行諸如此類的關鍵測試.

與硅相比，測試WBG功率器件在更高的功率級別下需要更好的分辨率和更快的速度。測試可以分為兩大類

國內(nèi)第三代半導體現(xiàn)狀 • 

?以SiC為代表的第3代半導體因其*的性能在裝備制造、5G、智能 電網(wǎng)、新能源汽車等行業(yè)收到了廣泛的熱捧。 

• ?當前，我國在第三代半導體方面給予了很大的政策扶持，半導體技術和 歐美日韓等國家的差距在縮小但仍然較大。 

• ?以SiC為代表的第3代半導體發(fā)展迅速，與Si器件相比性能顯著，但缺點 亦為明顯，成本和工藝等問題仍為目前大規(guī)模應用的挑戰(zhàn)。 

• ?當前是進入第3代半導體產(chǎn)業(yè)的最佳窗口期，也是中國半導體技術與國外 追趕甚至超越歐美日韓等國家的寶貴時期。

• ?國際合作氛圍融洽，市場的多元性和需求梯度驅動第3代半導體發(fā)展明顯， 國內(nèi)外企業(yè)、機構積極布局。